檢測認證人脈交流通訊錄
- 全自動掃描電鏡主要用于雜質或顆粒物的綜合評估，可以自動獲取大量顆粒的微觀形貌 和成分信息，具體包括： 顆粒粒度分布 顆粒形貌分析 雜質成分檢測 高分辨率成像（8 nm 分辨率） ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為基礎，結合自動控制系統(tǒng)以及強大的數據庫系 統(tǒng)，可以全自動對雜質顆粒進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計，為客戶的研發(fā)以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。 Phenom XL.jpg ParticleX 全自動顆粒分析系統(tǒng) 產品參數 電子顯微鏡：200,000 倍 探測器：高靈敏度四分割背散射電子探測器 燈絲材料：1,500 小時 CeB6 燈絲 分辨率：優(yōu)于 10 nm 放置環(huán)境：采用專業(yè)防震設計，可擺放于普通實驗室或辦公室、廠房 加速電壓：4.8kV-20.5kV 連續(xù)可調 抽真空時間：小于 30 秒 能譜儀：可選配能譜儀 · 全自動鋰電正負極雜質分析 ParticleX 可以全自動對正負極中的鐵類雜質顆粒進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計， 整個過程無需人工參與。定量磁性雜質顆粒的形態(tài)、數量和種類，以此判定是哪個生產環(huán)節(jié)出了問題。 · 全自動鋼鐵夾雜物分析 ParticleX 為鋼鐵中夾雜物的分析提供了便捷、高效、可重現的分析工具。為鋼鐵材料的研發(fā)、生產、質量控制與評級提供了便利。 產品來源： http://www.desktopsem.com/Products-26538793.html https://www.chem17.com/st232783/product_36743914.html
