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佛山市森富智能包裝設備有限公司

檢測認證人脈交流通訊錄

X射線衍射儀

  • 這真不是您需要的產(chǎn)品?
  • 品  牌:
  • 主要規(guī)格:
  • 用  途:
    • X射線衍射儀特點:  
      ●硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的*結合,滿足不同應用領域學者、科研者的需要  
      ●高精度的衍射角度測量系統(tǒng),獲取更準確的測量結果  
      ●高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng),得到更穩(wěn)定的重復測量精度  
      ●程序化操作、一體化結構設計,操作簡便、儀器外型更美觀  
      X射線衍射儀應用:  
      是揭示材料晶體結構和化學信息的一種通用性測試儀器:  
      ●未知樣品中一種和多種物相鑒定  
      ●混合樣品中已知相定量分析  
      ●晶體結構解析  
      ●非常規(guī)條件下晶體結構變化(高溫、低溫條件下)  
      ●材料表面膜分析  
      ●金屬材料織構、應力分析  
      可以分析天然或是人工合成的無機或是有機材料,廣泛應用于粘土礦物、水泥建材、環(huán)境粉塵、化工制品、藥品、石棉、巖礦、聚合物等研究領域。  
      ●基于θ-θ幾何光學設計,便于樣品的制備和各種附件的安裝  
      ●金屬陶瓷X射線管的應用,極大提高衍射儀運行功率  
      ●封閉正比計數(shù)器,耐用免維護  
      ●硅漂移探測器具有優(yōu)越的角度分辨率和能量分辨率,測量速度提高3倍以上  
      ●豐富的衍射儀附件,滿足不同分析目的需要  
      ●模塊化設計或稱即插即用組件,操作人員不需要校正光學系統(tǒng),就能正確使用衍射儀相應附件  
      功能:  
      數(shù)據(jù)測量功能  
      ●θs-θd常規(guī)對稱測量  
      ●定性、定量分析  
      ●樣品晶體結構分析  
      ●晶體結晶化評價  
      ●晶格尺寸、晶格應力評價  
      θs-θd不對稱測量(掠射測量)  
      ●薄膜/粉末樣品的定性分析和結構分析  
      ●晶格常數(shù)的精確分析  
      ●殘余應力/取向評價  
      ●薄膜/密度測量  
      0mg搖擺測量  
      樣品結晶狀態(tài)的精確評價  
      不同的測量功能都是為了研究材料結構而設計的,每種測量方式而得到的數(shù)據(jù),都有滿足分析要求的相應數(shù)據(jù)處理軟件。  
      光學系統(tǒng)轉換  
      不需要拆卸索拉狹縫體,就可以單獨更換索拉狹縫結構。由于這一特點,不需要重新調(diào)整儀器,就可以實現(xiàn)聚焦光學系統(tǒng)和平行光學系統(tǒng)的轉換。  
      早前聚焦法光學系統(tǒng)和平行光束法光學系統(tǒng)分別需要配置彎曲晶體單色器和平面晶體單色器,光學系統(tǒng)的轉換需要對光學系統(tǒng)重新校正。采用本系統(tǒng)只要將單色器的晶體旋轉90°、更換狹縫結構,就可以實現(xiàn)光學系統(tǒng)的轉換。  
      數(shù)據(jù)處理軟件包括以下功能  
      基本數(shù)據(jù)處理功能(尋峰、平滑、背景扣除、峰形擬合、峰形放大、譜圖對比、Kα1、α2剝離、衍射線條指標化等);  
      ●無標準樣品快速定量分析  
      ●晶粒尺寸測量  
      ●晶體結構分析(晶胞參數(shù)測量和精修)  
      ●宏觀應力測量和微觀應力計算;  
      ●多重繪圖的二維和三維顯示;  
      ●衍射峰圖群聚分析;  
      DX系列衍射儀除了基本功能外,可快速配置各種附件,具有超強的分析能力  
      高精度的機械加工,使附件安裝位置的重現(xiàn)性極大地提高,實現(xiàn)即插即用。不需要對光路進行校準,只要在軟件中選定相應的附件就可以實現(xiàn)特殊目的測量。  
      多功能樣品架  
      隨著材料研究的深入,越來越多的板材、塊狀材料及基體上的膜也要求用進行性能分析。在測角儀上安裝多功能樣品架可以進行織構、宏觀應力、薄膜面內(nèi)結構等測試,每一種測試功能都有相應的計算軟件。  
      ●碾軋板(鋁、鐵、銅板等)織構測量及評價  
      ●金屬、陶瓷等材料殘余應力測量  
      ●薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評價  
      ●大分子化合物取向測量  
      ●金屬、非金屬基體上的多層膜、氧化膜、氮化膜分析  
      ●衍射數(shù)據(jù)半峰寬校正曲線;  
      ●衍射數(shù)據(jù)角度偏差校正曲線;  
      ●基于Rietveld常規(guī)定量分析;  
      ●使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是用戶數(shù)據(jù)庫進行物相定性分析;  
      ●使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是ICSD數(shù)據(jù)庫進行定量分析;  
      織構使材料呈現(xiàn)各向異性,利用織構改善和提高材料的性能、充分發(fā)揮材料性能的潛力,是材料科學研究的重要工作之一。雖然檢測材料織構方法很多,但是zui廣泛應用的還是X射線衍射技術。  
      多功能樣品架用于織構樣品測量,軟件計算后分別繪制出極圖、反極圖、ODF圖。
      產(chǎn)品詳情:http://www.ddaolong.com/ddal2013-Products-37076821/
      https://www.chem17.com/st276094/product_37076821.html

       

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