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1、SEM可對(duì)樣品表面進(jìn)行形貌觀察。
2、SEM放大測(cè)試位置可以對(duì)鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量,對(duì)粒子尺寸進(jìn)行測(cè)量。
3、異物分析:掃描電子顯微鏡(SEM)可放大測(cè)試區(qū)域,再用EDS對(duì)材料表面進(jìn)行元素分析,尤其是異物分析。
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