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深圳市賽特檢測有限公司

檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄

  • 深圳供應(yīng)低溫存儲壽命試驗(yàn)/STT賽特檢測

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  • 對應(yīng)法規(guī)：JESD22-A119
    CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是

  • 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/strong>

    為了考核低溫對試樣的影響，確定試樣在低溫條件下存儲的適應(yīng)性。該實(shí)驗(yàn)一般用到高低溫 試驗(yàn)箱。

    實(shí)驗(yàn)原理

    低溫下電子元器件的電參數(shù)會發(fā)生變化、材料變脆及其材料冷縮產(chǎn)生應(yīng)力等。使電子元器件 處于低溫環(huán)境下一定時(shí)間,考核電子元器件的電參數(shù)是否發(fā)生變化、材料是否變脆、材料冷縮 產(chǎn)生應(yīng)力有多大等，從而確定電子元器件的抗低溫能力。

    實(shí)驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)

    JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011

     


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