主要技術(shù)指標(biāo)：美國(guó)di公司，掃描探針顯微鏡NanoScope IV原子力顯微鏡(AFM)能立體三維觀察物體形貌，側(cè)向分辨率(X-Y方向) 2nm，垂直分辨率(Z方向)0.1nm。具有多種探測(cè)(接觸、非接觸、輕敲)模式，多種成像(相檢測(cè)、力調(diào)制、側(cè)向力)方法。可選用3種不同量程的掃描器(X-Y方向，Z方向：125×125m, 5.0m(室溫~250℃)；10×10m, 2.5m；0.4×0.4m，0.4m)。在原子和分子水平上觀察表面拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)及物理性質(zhì)。

功能/應(yīng)用范圍：●高分子表面形態(tài)、結(jié)構(gòu)鏈堆砌和構(gòu)象研究●多相高分子組成分布及微尺度性能研究●高分子材料表面摩擦力研究●高分子表面微尺度粘彈性和硬度研究●表面結(jié)構(gòu)與性能隨溫度變化的研究

主要測(cè)試和研究領(lǐng)域：材料/珠寶首飾